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半導体製品におけるVEアプローチ -”機能相当パラメータ”による部材改善技法-
半導体製品におけるVEアプローチ -”機能相当パラメータ”による部材改善技法-
発行年:1989年 VE研究論文集 Vol.20
著者
株式会社日立製作所武蔵工場 VECセンタ:長野谷青史要旨
半導体製品のVEアプローチは非常に難しいと言われているが,当社に於ては,プロセス改善による歩留向上生産効率の改善等を行って来た。然るに原価の1/3弱を占める「部品材料」(以下「部材」と略す)の改善は製品原価の直接費の中で最も大きい比率を占めVE改善活動の大勢を決めると言っても過言ではない。そこで,VE活動活性化のため半導体独特の部材改善アプローチを考えた。それには,機能相当パラメータによる評価値を算出しバランスチャート図に表現した改善ポテンシャル発見技法を主なツールとして使用した。
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